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日立EA1000AIII能量色散型X射线荧光分析仪
概要：通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备，实现了低价格化。与以往仪器相比，环境管制物质的测量时间大幅缩短，材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更简单。型号：EA1000AIII测量元素：原子序数13(Al)～92(U)样品形态：固体、粉末、液体射线源：
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2019-01-24 |
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日立 EA1300VX X射线荧光检测仪
概要：以前，在使用原子吸收光度计或ICP-MS/OES时，需要在开始测量前，对样品进行预处理，因此较为繁琐。而且，预处理需要掌握熟练的技术，因而时常出现测量结果因人而异的情况。本仪器所采用的X射线荧光分析法的特点是，无需进行预处理，只需将要测定的样品放入样品容器，任何人都能轻松完成测量，每个人的测量结果之间的
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2019-01-24 |
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EA6000VX能量色散型X射线荧光分析仪
仪器简介：通过位置精度较高的自动样品台和高灵敏度性能，可以对微小异物进行快速扫描和检查，也可对电子基板等复合材料制品的微小特定部位实施定点精确测量。型号名称：EA6000VXX射线源：50kV、1mA、空冷式检测器：半导体检测器（无需液氮）一次滤波器：6种模式自动切换准直器：0.2、0.5、1.2、3mm 自动切换样品室大小：W5
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2019-01-24 |
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日立 EA1200VX 能量色散型X射线荧光仪
仪器简介：「EA1200VX」沿用了最新精工电子纳米科技有限公司自行开发的高计数率（能检测大量X射线的能力）检测器「Vortex」，具有更高的灵敏度和分辨率。适用于RoHS、ELV、无卤、EN71等环境限制物质测量，也可用于溶液、粉末、固体的成分分析，以及涂层的附着量测量等各种元素分析用途。技术参数：可测量元素：原子序数11(N
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2019-01-24 |
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X射线异物分析装置 EA8000
产品简介EA8000是，与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物，再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析，是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析，查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时，
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2019-01-24 |
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日立 PS3500DDⅡ 高精度ICP发光分光分析装置
概要：此款设备通过改良光学系统及样品导入系统等，不仅具有本公司旧机型的高处理能力，而且还进一步提高了分辨率、精度和再现性。规格参数：特点：1.高分辨率测量通过对分光光学元件的精密加工以及对光学系统的最优化处理，以及基于直接驱动的扫描技术，使得此款设备不仅具有较高的处理能力，同时将波长分辨率(半峰宽)从本
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2019-01-24 |
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日立 PS7800 台式ICP发光分光分析装置
概要：台式ICP发射光谱仪。由于配备了阶梯光栅的双单色仪，可达到能与大型分光器相匹敌的高分辨率，能满足例如各种不同材料分析等其他广泛需求。特点：1.超小型采用了分离式设计，分割为分光器装置、高频电源装置、数据处理装置3个部分。高频电源及小型循环冷却水（选配）可置于操作台下方。2.高分辨率通常情况下，分光器越
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2019-01-24 |
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日立 TMA7000Series 热机械分析仪
概要：与传统的TMA相比，灵敏度提高了2倍。因为是没有形状制约的全膨胀方式，无论是薄膜或碎片样品都可以测定。另外，只须更换探针就可以完成压缩、针入、拉伸测量模式。自动冷却器等的选配件种类充实，将使用便利性和高精度测定成结合在一起。型号：TMA7100样品管：石英制、金属制探针：膨胀、压缩式石英探针 针入式石英探
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2019-01-24 |
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